您当前的位置：首页 » 产品展示 » 高低温冷热台 » JK-CH600190-XRD冷热台
| 产品名称： | JK-CH600190-XRD冷热台 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2024-09-18 |
JK-CH600190-XRD冷热台的详细资料
JK-CH600190-XRD冷热台
JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。
产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。
产品特点：
温度范围-190~600℃（选型）/RT~1000℃（选型）
温度稳定性±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
衍射角0～164°
X射线视窗Kapton膜
支持反射/透射模式
密腔室设计，可升级真空腔室（10^(-3) mBar）
可更换上盖，作为普通冷热台使用
可调节高度，满足不同厚度样品测试更换上盖，可用作光学冷热台，实现一机多用
详细参数一览表：
|
XRD原位冷热台 |
JK-CH600190XV |
JK-H1200XV |
|
|
温控模块 |
冷热方式 |
液氮致冷，电阻加热 |
电阻加热 |
|
温控范围 |
-190～600℃ * |
RT～1200℃ * |
|
|
温度稳定性 |
±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）* |
||
|
温度分辨率 |
0.1℃ |
||
|
升降温速率 |
0~30℃/min（可定点 / 程序段控温） |
||
|
温控方式 |
PID |
||
|
温度传感器 |
PT100 |
热电偶 |
|
|
光学特性 |
光路 |
反射 * |
|
|
X射线透射膜 |
Kapton膜 |
||
|
结构特性 |
样品台尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
|
样品台材质 |
银质 * |
陶瓷 * |
|
|
外形尺寸 |
100×100×73mm * |
||
|
腔室 |
真空 |
||
|
外壳冷却 |
循环水 |
||
|
基本配置 |
XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干 |
||
|
选配 |
电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板 |
||
|
备注 |
以上均为默认参数 * 为可定制项 |
||
|
其他可选型号 |
CH400-100-X（-100~400℃） |
||
产品应用：
搭配理学X射线衍射仪 ↓
搭配赛默飞X射线衍射仪 ↓
